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样品前处理
样品前处理
  • 双束聚焦离子束(Dual beam FIB)

    2023-07-11 一、项目介绍:FIB主要通过创新的elstar电子枪与高电流UC +技术相结合,实现极高分辨率成像 最高的材料与卓越的Phoenix离子枪形成对比,即使在最具挑战性的样品上,也能实现最快,最简单,最精确的高质量样品制备和3D表征。具有以下主要特点:最快,最简单的HR-TEM和APT样品制备极高分辨率成像,具有最精
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