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傅立叶变换红外光谱仪 (FTIR)

2023-07-11 一、项目介绍：傅氏变换红外光谱仪(Fourier Transform infrared spectroscopy，简称FTIR )，是一种用于获得固体、液体或气体的吸收或者发射的红外光谱的技术，测量一个样品再每个波长下吸收多少光。广泛应用于塑料、橡胶弹性体、纤维、涂层、填料等众多高分子及无机非金属材料的定性与定量分析。鉴定有机化合物，了解分析结

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白光干涉仪 (WLI)

2023-07-11 一、项目介绍：1、原理：干涉仪是利用干涉原理测量光程之差从而测定有关物理量的光学仪器。两束相干光间光程差的任何变化会非常灵敏地导致干涉条纹的移动，而某一束相干光的光程变化是由它所通过的几何路程或介质折射率的变化引起，所以通过干涉条纹的移动变化可测量几何长度或折射率的微小改变量，从而测得与此有关的其他物

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原子力显微镜 (AFM)

2023-07-11 一、项目介绍Introduction：原子力显微镜（AFM）是一种具有极好的垂直分辨率（亚纳米）的扫描探针显微镜。它是研究表面拓扑和表面粗糙度值的强大工具。通过隧道式AFM（TUNA）和纳米压痕的应用模块，可以测量电气和机械性能。二、分析指标Specifications垂直分辨率0.1nm最佳横向分辨率7nm最大扫描

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X光绕射分析 (XRD)

2023-07-11 一、项目介绍XRD全称XRD全称X射线衍射（X-Ray Diffraction），利用X射线在晶体中的衍射现象来获得衍射后X射线信号特征，经过处理得到衍射图谱。利用谱图信息不仅可以实现常规显微镜的确定物相，也可以观察晶体内部是否存在位错或晶格缺陷等。其中XRD使用的X射线是一种波长很短的电磁波（20~0.06埃），它通常是由于高能电子束

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二次离子质谱分析仪 (SIMS)

2023-07-11 一、项目介绍：飞行时间二次离子质谱技术（Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry，TOF-SIMS）是一种非常灵敏的表面分析技术，通过用一次离子激发样品表面，打出极其微量的二次离子，根据二次离子因不同的质量而飞行到探测器的时间不同来测定离子质量，具有极高分辨率的测量技术。可以广泛应用于物理，化学，

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